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基礎(chǔ)信息Product information

產(chǎn)品名稱:數(shù)字超聲波探傷儀 LBUT30B

產(chǎn)品型號:LBUT30B

產(chǎn)品簡介:

數(shù)字超聲波探傷儀 LBUT30B
專業(yè)供應(yīng)銷售具有*的技術(shù)水平,更有良好的售后服務(wù)和優(yōu)質(zhì)的解決方案,歡迎您的詳細(xì)信息!

產(chǎn)品特性Product characteristics

 數(shù)字超聲波探傷儀 LBUT30B


技術(shù)參數(shù)

 

 名稱

 技術(shù)數(shù)據(jù)

 掃描范圍(mm)

0~6000

 垂直線性誤差

≦3%

 水平線性誤差

≦0.2%

 探傷靈敏度余量

≧62dB(深200mmφ2平底孔)

動態(tài)范圍

≧32dB

 分辨率

≧40dB

 頻率范圍(MHz)

0.5~20

 增益調(diào)節(jié)(dB)

0~110

 材料聲速(m/s)

1000~9999

 抑制

0~80%

 工作溫度(℃)

-27~70

 外形尺寸(mm)

 225*170*50(LBUT30/30B)

 重量(Kg)

 1.8


主要功能

 

l   利用標(biāo)準(zhǔn)試塊手動或自動生成DACAVG曲線; 

l   自動顯示缺陷回波位置(深度D、水平P、距離S、波幅H)

l   自由切換三種標(biāo)尺(深度D、水平P、距離S);

 

l   10個(gè)獨(dú)立探傷通道,可自由輸入并存儲任意行業(yè)的探傷標(biāo)準(zhǔn)(可根據(jù)用戶需求擴(kuò)展);

l   可存儲300幅A形圖形、參數(shù)(可根據(jù)用戶需求擴(kuò)展); 

l   自動顯示缺陷當(dāng)量φ

l   高采樣率,低噪聲;

l   探頭方式:單晶、雙晶、穿透;

l   回波抑制;

l   回波次數(shù)分析。

 

輔助功能
l   自動增益、回波包絡(luò)、峰值記憶功能提高了探傷效率;
l   中英文操作界面;
l   角度和K值兩種輸入方式;
l   閘門聲光報(bào)警。

產(chǎn)品特點(diǎn)
l   利用PC通訊軟件可以升級儀器系統(tǒng)的功能;
l   鋰電池供電,可連續(xù)工作10小時(shí);
l   IP65標(biāo)準(zhǔn)鋁鎂合金外殼,堅(jiān)固耐用,防水防塵,抗干擾能力;
l   大屏幕高亮顯示,可以滿足在陽光下、涵洞中探傷的要求。

標(biāo)準(zhǔn)配置

 

LBUT30/30B/30G1臺   
直探頭2.25MHz3/4英寸(美國TRU-SONIC) 1支
斜探頭5P10*10 60º(美國TRU-SONIC)1支
電源適配器1個(gè)         
BNC電纜2根
PC通訊軟件1套

 

 

 

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